各有关单位、研究组：
公共实验中心（先进制造平台）将于近期开展高分辨率原子力显微镜（AFM）ABN-AFM-001的样机试用活动。该设备具备亚纳米级的空间分辨率，是开展材料微观形貌分析、生物分子结构研究及半导体工艺检测的重要利器。欢迎广大师生积极参与试用与交流。
具体安排及仪器介绍如下：
一、 仪器简介
原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）ABN-AFM-001利用探针与样品表面原子间的相互作用力成像。本次试用的样机具备大视野无色差导航与高精度扫描系统，支持在大气环境下对各类硬质材料、软物质及生物样品进行纳米级形貌表征和物理特性测量。
二、 核心性能特点
1. 超高空间分辨率
o Z轴分辨率 ≤ 0.1nm：实现亚纳米级纵向精度，可清晰显现原子级台阶与分子细节。
o X-Y轴分辨率 ≤ 1nm：确保面扫描的高保真度。
2. 大范围与快速扫描能力
o 扫描范围达 70μm × 70μm，配合最高 10Hz 的扫描速度，兼顾了大尺寸搜寻效率与实时成像能力。
3. 多模式适应性
o 支持接触模式（Contact Mode）与轻敲模式（Tapping Mode）。
o 兼容硬度范围在 0.01N至40N 的多种探针，既能处理坚硬的半导体晶圆，也能保护脆弱的生物膜与蛋白质样品。
4. 极低噪声底噪
o 控制系统具备极高的稳定性，X-Y方向均方根（RMS）噪声 ≤0.01nm，有效保证了图像的真实性与数据采集的精准度。
5. 人性化操作与高清成像
o 配置直观的GUI控制软件，支持 512 × 512 至 2048 × 2048 像素的高清图像采集，满足高水平学术期刊投稿需求。
三、 主要应用领域
· 材料科学：研究纳米材料（如硒化钴、石墨烯）的形貌、摩擦系数、弹性模量及硬度。
· 生物与生命科学：观察DNA分子、蛋白质复合物、细胞膜表面微结构及其动态变化。
· 半导体与微纳加工：晶圆表面缺陷检测、纳米级粗糙度测量及结构分析。
· 化学与纳米技术：监测化学反应前后的表面形貌演变，分析纳米颗粒的分布与团聚状态。
· 物理研究：探测材料表面的粘弹性、导电性等纳米物理现象。
o 尺寸限制：最大 15mm × 15mm；
o 厚度限制：最大 2mm；
o 样品表面需平整，无挥发性污染。
二、活动安排：
· 理论培训
o 题目：高分辨率原子力显微镜（AFM）ABN-AFM-001
o 时间：2026年5月20日，9:30—10:30
o 地点：仁爱路校区明德楼B302会议室
· 上机培训
o 时间：2026年5月20日，10:30—12:00
o 地点：仁爱路校区明德楼C105a室
· 样机试用
o 时间：2026年5月21日—7月20日
o 地点：仁爱路校区明德楼C105a室
o 预约联系人：徐蔚老师（13024526576）
欢迎各位师生积极参与试用，并提前预约！
